HR-GD-MS, modèle GD90 Trace
La GD-MS est une technique mature capable de détecter et quantifier de manière systématique presque tous les éléments présents dans un échantillon solide au niveau du ppb et même en deçà.
La technique GD-MS revisitée par MSI nous offre le nouveau GD90 Trace.
C’est devenu l’outil idéal pour l’analyse directe des éléments traces dans des matériaux conducteurs de haute pureté.
Voici les caractéristiques du modèle GD90 Trace :
• Full elemental analysis of major (wt%) to ultra-trace (ppb to sub-ppb) elements within a single scan
• Direct solid sampling technique alleviating the need for chemical digestion
• Continuously variable high resolution capabilities from 400 to 10,000 RP (10% valley definition)
• Dual collectors allowing up to 12 orders of linear dynamic range
• Proven technique for high sensitivity depth-dependent
• Distribution analysis of trace elements in coatings and other multi-layered advanced materials
• Minimal matrix effects allow calibration without matrix
• Matched standards by using Relative Sensitivity Factors (RSF)
